为什么说Aeroflex PXI3000测试速度快5倍？ 大幅缩减测试时间的方法- AEROFLEX PXI3000 Aeroflex 3000系列综合了下述缩短测试时间的所有性能在测试设备和计算机之间，样本数据传送的级数少，可以使任何测试具有极大灵活性。对于测试时捕获时间由被测试设备决定的情况，如GSM时隙，这样可使不同测试设备同时对一组捕获数据进行测试，从而缩短了测试时间。采用这种方法，测试设备和计算机之间的数据传送时间成为一个测试速度的重要因素。这方面PCI总线显著地优于GPIB、Ethernet或VXI。PCI可提供峰值传送率达132Mbyter/sec，比GPIB快100倍。 PXI模块之间拥有本地总线，兼容模块之间可进行直接通信，这样减少了系统控制器装载通信程序的时间。对测试速度的进一步贡献是在数据传送前完成数据缩减。Aeroflex的PXI模块包含一个大的FPGA，用于信号处理。这个FPGA用于数据传送之前的程控数据缩减，以最大化传输速度，并保持灵活性和最大的性噪比。对于不同的测试项目和不同的测试结构，测试时间的缩短程度不同。例如，在功率测试时，我们比GPIB仪器测试时间快5倍。使用专用PXI触发总线同时激励和数据捕获，可以有更多的可能减少测试时间。对于需要相对长时间记录的测试应用，如平均值，测试过程与下一样本的获得可并行执行。例如，对于TDMA系统，由测试系统内部或外部提供时间‘门’，仅捕获TDMA结构中活跃的突发脉冲。样本记录成为非连续的时间记录，记录对应的邻近突发脉冲，数据量大大减少，从而缩短了传输所需的时间。测试系统然后被设置成捕获邻近的突发脉冲，信号被传送用于分析的同时，下一突发脉冲数据被捕获。这样缩短了执行多脉冲平均所需的时间。使用基于硬件控制的登记，加速了响应时间。与频率捷变信号合成器（加选件典型值小于250us）以及快速、可靠、具有重复精度的电子衰减器结合，当需要测试一定范围的载波频率和信号电平时，这种设计加速了测试速度。与分立仪表不同，PXI系统基于捕获、传送，以及远程分析样本数据，使得移植新的CPU变得很容易。快速的处理器直接加速了测试时间。不同于分立仪表，PXI系统只需要更换系统控制器，而不需要重新设计。一个产品的期望寿命是5年或更长，在使用期间内，PXI产品会因此获得极好的性能。 Aeroflex 3030射频数字化仪提供的实时数据输出，通过前面板接口实现，扩展了由第三方DSP模块处理实时测试数据的能力。 Aeroflex的 Active X测试控件使用了有效的拥有版权的测试算法。标准化比较显示：在没有进行优化状态下，一个完整的单突发脉冲/时隙进行功率、调制误差、频率误差、频谱/ACLR分析，PXI系统比专用的GPIB仪表更快速。测试结果在OCX控制下计算，它调用了DLL库。执行这些测试的汇总见下表： Measurement Time (in Visual Basic)* GSM Mod Analysis (including slot power, pvt) 0.9 ms EDGE Mod Analysis (including slot power, pvt) 7 ms GSM Spectrum (21 Frequencies) 6 ms per burst FFT Spectrum (4096 point) 1 ms ACP calculation on Spectrum Trace 0.3 ms 3G ACLR (3 channels, using RRC filter) 15 ms 3G slot power 0.5 ms *所有这些数据还需加上捕获时间。对于GSM/EDGE，基于1.92MHz的缩减样本率和覆盖9个时隙的11K样本容量，不同步捕获和传送一个单时隙信号需加上在约1.5ms到2ms。测试时间是基于MXI-3接口、处理器为P4 2.4G计算机的PXI系统测算的。 Aeroflex的PXI结构包括开放的、具有说明文件的ActiveX控件构成的界面，满足系统降低成本和减少测试时间的要求，同时提供了当今手机生产所需的灵活性要求。