FormFactor发表PH150XP晶圆探针卡，扩展其PH150系列DRAM晶圆测试产品的阵容。PH150XP探针卡提供多项良率与处理量提升的功能，让DRAM制造商能进一步降低整体测试成本。PH150XP探针卡样本已开始供应予各大内存领导制造商进行评估测试。 
     PH150XP能辅助FormFactor刚于一月推出的新款Harmony XP晶圆探测解决方案。Harmony XP探针卡是针对1GB与更高密度DRAM组件的全区域12寸晶圆所设计，而PH150XP则属低成本解决方案，专门探测每片晶圆必须进行4次以上的小尺寸、低密度DRAM组件(512MB以下)的接触测试。 
     PH150XP探针卡的架构改良，也在探测时达到更高的平面与位置精确度。除了支持更小的测试垫片尺吋外，这些改良设计还能减少过多的刻痕记号，这类记号会损坏测试垫片进而造成良率损失。减少刻痕记号对于已知良好晶粒(KGD)以及其它需要进行多重测试的应用，亦或是进行组件测试的阶段而言，都特别重要。 
     PH150XP探针卡提供一项选配方案，它能支持各种温度变化，运用极小的垫片进行双重的温度测试，同时缩短测试时间(探针卡在测试特定温度时所耗费的时间)，以达到更高的探针卡可用度以及测试处理流量。通过这种选配方案，在安装探针卡、晶圆更换、以及探测记号的检测时，探测的位置仍能维持稳定，确保控制中的探测条件，并达到更快的设定时间。