因应IC设计在亚洲的蓬勃发展，由工业技术研究院(ITRI)、国际电机电子工程师学会(IEEE)共同主办的国际超大规模集成电路设计、自动化暨测试研讨会(2007 VLSI-DAT)，自4月25日起一连在台湾地区举行三天。 
    会中除了安排大师级的专题演讲外，并发表来自全球64篇突破性的前瞻技术论文，吸引欧美日等17国超过500位专业人士与会，开幕式中并将颁发ERSO Award给思源科技(Springsoft)董事长吕茂田，表彰他多年来在设计自动化技术的杰出贡献。 
    VLSI-DAT邀请到美国德州大学奥斯汀分校的Jacob Abraham博士，演讲芯片嵌入式系统的原生模式自我测试(Native-Mode Self Test for Embedded Systems on a Chip)、瑞士洛桑联邦科技大学Giovanni De Micheli博士主讲奈米电子的机会与挑战(Nanoelectronics：challenges and opportunities)、日本东芝Tohru Furuyama博士演讲数字消费及移动式整合芯片的挑战：更多摩尔定律的可能性(Challenges of Digital Consumer and Mobile SoC’s：More Moore Possible)。 
    除了前瞻性的论文与演讲之外，VLSI-DAT也在4月27日安排三场深入的教学课程(Tutorial)，分别邀请到交通大学吴介琮博士、美国德州大学奥斯汀分校David Z. Pan博士与卡内基美隆大学Radu Marculescu博士，就高效能Pipelined ADC原理与设计、可制造与变异的奈米级实体设计、多重处理器单芯片设计：以通信为中心的观点为题，进行3个小时的深度经验传授。 
    此外该活动今年还首度颁发“ERSO Award”给台积电副董事长曾繁城、汉民科技董事长黄民奇、思源科技董事长吕茂田等三位业界人士，以表彰他们在推动台湾地区半导体产业发展上的杰出贡献。