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芯片测试系統規格
http://www.ic72.com
发布时间：2007/4/29 3:18:57
1. 200 MHz
Clock
測試能力
2. 1.5 ns Rise/Fall Time 5V Swing
3. per-pin
程式化
, 50
歐姆特性阻抗
4. pin count 224 I/O
可擴充至
448 I/O
5. 502M Byte
External
Pattern Storage
6. 50 ps Edge
解析度
, 150 ps
精確度
7. Ethernet & GPIB
介面
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搀杂工艺
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