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IC Testing Types
http://www.ic72.com
发布时间：2007/4/29 3:17:57
•
Wafer
Accept Test
•
Verification Test
•
On
Wafer
Test
•
Characterization Test
•
Burn-In Test
•
Production Test
•
Incoming Inspection Test
•
PC-Board Test
•
... ... ...
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基于TOC理论的OEE的应用
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设计基于MSP430单片机的微功耗中文人机界面
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