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  • 测试延迟自动生成器
    http://www.ic72.com 发布时间:2007/4/28 1:57:18

    摘要:在电压调整测试中,测试设备提供的负载电流需经一定的时间延迟才能达到预定值。文章介绍了一套开发于ASL-1000测试平台、可自动生成测试所需延时间的电路,使测试既准确又经济,因此可推而广之。

    关键词:负载电流 延迟时间 ASL-1000 测试

    1 引言

    在电压调整器负载特性的测试中,测试设备一般采用电容组充、放电,以输出具有一定脉宽的大电流,并将其提供给“特测器件”(DUT,Device Under Test)的输出端作为负载电流。由于电容效应,该电流无法在t=0时刻达到器件手册中的规定值,因而在电流源开启后,必须经一段延迟才能进行输出采样。延迟时间的取值对测试影响较大,过小则负载电流尚未达规定值,测试无效;过大将影响测试速度,造成经济损失。

    2 电路设计

    ASL-1000是美国Credence公司研制的IC测试设备,已在业界普遍应用。在其电压调整器的常规测试电路中,接入两只内部继电器并外接一只1Ω/5W的电阻,同时辅助以相应的测试软件,从而构成了一套延迟时间自动生成电路,如图1所示。

    3 设计实例

    图1中,DVI-9-CH0提供DUT输入电压,PV3-2提供负载电流(图中略)。DVI-9-CH1与DVI-11-CH1分别采样测试。以集成稳压器CW7812为例,合上MUX-1-1和MUX-2-1,当DUT负载电流为0.5A时,由于电阻压降,两测试端采样到的电压应相差0.5V,表1是经不同延迟时间后获得的测量值。

    由表1数据可得负载电流与时间的关系示意图,如图2所示。显然,延迟时间应稍大于T1并小于T2,才能使测试既准确又经济,且不同芯片负载特性的差异会使T1、T2也随之改变。鉴于此,笔者设计了一套延迟时间自动生成方案:合上继电器,两测试端同时采样。设初始延迟时间为10μs,以100μs为步进,循环增加,直到两测试端同次测值压差不小于0.5V且同一端前后两次测值之差不大于1mV,方可认定此时负载电流已达到0.5A。为避免进入死循环,程序设置了时间溢出(time_over),一旦延迟时间超出,程序退出并报错,此时需配合其它参数的测试,检查DUT是否已失效。正常测试时,要断开MUX-2-1。

    表1 不同时延后的测值

    时延(s)1050100300500700
    DVI-9-CH1测值(V)12.083212.082112.083212.081512.080812.0802
    DVI-11-CH1测值(V)12.083212.083112.08112.061212.043512.0069
    时延(s)7507707908509501200
    DVI-9-CH1测值(V)12.074312.061512.055912.043612.050612.0553
    DVI-9-CH1测值(V)11.677211.511911.396211.263511.301211.5266
    时延(s)1300140015001600170030000
    DVI-9-CH1测值(V)12.056812.057212.057712.057812.057812.0832
    DVI-9-CH1测值(V)11.548511.549511.549711.549811.549912.0832

    以下为测试源程序Vout_Highload.cpp:

    void Vout_Highload(test_function& func)

    { //The two lines below must be the first two in the function.

    Vout_Highload_params *ours;

    ours=(Vout_Highload params *)func.params;

    floatVout,Vout1,Vout2,Vout3,delta1,delta2,delta3;

    float time_delay=1,time_over=1000;

    //initialise delay time=10μs,time_over=10ms board_hardware_init();

    fixed_connect();

    //initialise the DVI_9_CH1 and the DVI_1_CH1

    dvi_9 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);

    dvi_9->est_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,

    FAST_VOLTAGE_MODE);

    div_11 ->set_meas_mode (DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);

    dvi_11->set_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_50_RANGE,FAST_VOLTAGE_MODE);

    //connect the resistor to the output of the DUT

    mux_20->close_relay(MUX_1_1);

    mux_20->close_relay(MUX_2_1);

    //set initial current

    pv3_2->set_voltage(0.0,PV3_RNG_100V);

    //set initial voltage

    wait.delay 10_μs(10);

    pv3_connect(); //connect PV3 to circuit

    do

    {//Set PV3 voltage to 20V so that PV3 step up current to max value

    pv3_2->set_voltage(20,PV3_RNG_100V);

    pv3_2->set_current(0.5,RANGE_10_A);

    //set the current to 0.5A

    pv3_2->drive-on();

    wait.delay_10_μs(time_delay);

    Vout=dvi_9->measure (); //Measure output without the resistor

    Vout1=dvi_11->measure (); //Measure output with the resistor

    pv3_2->drive_off();

    time_delay=time_delay+10;

    delta1=Vout-Vout1;

    delta2=Vout-Vout2;

    delta2=Vout1-Vout3;

    Vout2=Vout;

    Vout3=Vout1;

    if(time_delay>time_over)

    {Vout=999.999;

    break;

    }

    } while((fabs(delta1)<0.5)(fabs(delta2)>0.001)(fabs(delta3)>0.001));

    board_hardware_init();

    }

    4 结束语

    经以上程序,在测得CW7812实际输出电压Vout 的同时,可自动获得测试所需的延迟时间(timedelay),且在后续其它参数的测试中,延迟时间可延用此数值。如此,既满足了测试要求,又最大限度的节省了测试时间。本方法适用于其它所有电压调整器的测试,并可推广到其它测试设备中。






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