FormFactor推出
HarmonyXP探针卡，扩增其
Harmony系列全区域12吋晶圆探针卡产品阵容，先进的晶圆侦测解决方案支持高密度行动通讯、一般商品以及绘图产品专用DRAM组件，为每粒晶圆带来最低整体测试成本。
专为这些装置之高标准技术挑战而量身设计的
HarmonyXP探针卡，以俾使DRAM制造商达到其在更高针脚数、频率、平行化测试，以及缩减焊垫与间距尺吋的产品蓝图需求。HarmonyXP探针卡充份运用先进测试仪器的各项资源(受测晶粒数量高出384倍以上)，达到最高的平行处理效率，仅须两次接触测试，就能侦测12吋1GBDRAM晶圆。
HarmonyXP晶圆探针卡结合了FormFactor生产验证的MicroSpring技术，以支持高度平行化的测试作业。探针卡创新的弹簧型设计，让HarmonyXP探针卡能支持超过5万个MircoSpring接触点，使其可测试高密度的行动装置专用DRAM以及各种绘图组件。MicroSpring探测器提供极低的接触阻抗，达到最佳的电子性能，仅须少量的清洁保养，就能提高探针卡的可用度并维持更高的测试单元正常运作时间。
为协助D
RAM制造商转移至65奈米以下设计规格，同时达到更低的功耗以及更严苛的电子性能要求，HarmonyXP架构将允许焊垫间距缩小至60微米，并在焊垫尺吋可缩小至55微米达到最佳的讯号完整性。此外，HarmonyXP解决方案更积极地发展进一步缩小尺吋的产品蓝图。
FormFactor表示，HarmonyXP探针卡提供了一个能支持300MHz的测试频率选项方案，不仅能缩短测试时间，亦能支持各种已知良好晶粒(KGD)的应用。这类领域中，高频率测试功能是不可或缺的。
减少探针卡在测试所有组件的接触测试次数，长久以来一直协助业者大幅降低DRAM的整体测试成本。虽然整体降低测试成本，但转移至12吋晶圆测试流程，亦促使业者需要提高测试单元的正常运作时间。以闪存专用的FormFactorHarmonyOneTouch探针解决方案为例，HarmonyXP解决方案搭载许多先进平坦化功能，是达成先进DRAM测试需求的重要条件。
HarmonyXP的整体系统方案亦提供探针卡的倾斜调整机制，缩短探针卡的设定时间，进而提高测试单元的生产力。FormFactor现已开始接受HarmonyXP探针卡的订单。
