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  • 第三届“设计、验证及测试论坛” (DVTF 2006)
    http://www.ic72.com 发布时间:2006/8/30 9:37:00

         嵌入式系统设计和测试专题 为以下工程师度身定制:

         嵌入式系统设计工程师和控制设计工程师 
         电路设计工程师 
         嵌入式系统测试研发人员 
         对设计和测试最新技术感兴趣的软/硬件工程师 

         部分专题概览: 

         使用SignalExpress进行自动化的设计与验证 
         如何缩短嵌入式系统的设计周期 
         无需掌握VHDL,体验图形化的FPGA编程 
         最新的FPGA调试技术 
         电路设计与仿真最新技术介绍 

         自动化测试专题 为以下工程师度身定制:

         测试测量与自动化行业的工程师和研究人员 
         生产线测试研发和技术工程师 
         
        
    对自动化测试系统感兴趣的专业人士部分专题概览:

         支持多种传感器信号的便携式数据采集系统 
         最新PCI Express和测试测量总线技术 
         基于实时技术的可靠性测试和控制 
         射频领域和多种行业领域内NI的解决方案
     
         测试经理高峰论坛(2小时)

         为测试经理和高层人员提供一个学习与交流的平台: 
         掌握最新测试技术的发展方向;展望未来测试平台的系统架构 
         探讨您在测试中面临的挑战,获取最佳解决方案 
         欢迎广大测试经理们踊跃报名此次高峰论坛!(名额有限,凭确认函入场)

         议程简介:
     

    时间 嵌入式系统设计和测试专题
    (金辉厅)
    自动化测试专题
    (鸿运厅)
    试经理高峰论坛(四季5/6厅)
    凭确认函入场
     
    09:30-10:00
     
    主题演讲
     
    10:10-11:00
     
    使用SignalExpress进行自动化设计与验证(NI/泰克)
     
    支持多种传感器信号的便携式数据采集系统(NI)
     
     
    11:10-12:00
     
    如何缩短嵌入式系统设计周期(泰克)
     
    最新PCI Express和测试测量总线技术(NI)
     
     
    12:00-14:00
     
    午餐及产品演示
     
    14:00-14:50
     
    无需掌握VHDL,体验图形化的FPGA编程(NI)
     
    基于模块化仪器的RFID测试系统的开发(聚星)
     
    测试经理高峰论坛(14:00-16:00)
     
    15:00-15:50
     
    FPGA系统调试(泰克)
     
    基于实时技术的可靠性测试与控制(NI)
     
    16:00-16:50
     
    利用Multisim快速建立仿真电路,提高电路设计/验证的效率(EWB)
     
    多通道数据采集与流盘系统(泛华)
     
     
    17:00-17:30
     
    产品展示

        
    >>详细议程介绍,进入...

               主办商                                          赞助商 
      ic72新闻中心         
                                        参与厂商 
    ic72新闻中心                 ic72新闻中心

      
      
        "DVTF 2006参与有礼计划”隆重启动! 

        1)即日起至9月8日之间报名的听众,将免费享用会议当日的精美商务午餐 
        2)全天参与技术讲座满5场(含主题演讲)并完整填写会议咨询表的听众,都将获赠精美礼物一份
     
        * 收到报名后我们将尽快与您联系,并发送会议议程和确认函。

    ic72新闻中心


     E-mail: china.info@ni.com   Tel: 021-65557838/800 820-3622   Fax: 021-65556244


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