安捷伦科技(Agilent Technologies)日前宣布，针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头(CTH)，藉此进入低成本自动测试设备(ATE)市场。安捷伦认为以此将满足制造商对测试复杂的高性能系统级芯片(SoC)不断增长的低成本解决方案需求。目前，这些SoC正广泛用于大批量低成本消费电子器件中。
据介绍，93000超小型测试头灵活性高，进一步保护了制造商在自动测试设备中的投资。它体积小，可以有效用于供应链及一系列环境中，包括工程设计、晶片筛选和最终测试。它满足了一系列SoC应用的测试需求，如LCD TV控制器、DVD、光驱、便携式媒体播放器中使用的嵌入式存储器、高速通信接口和优质音频/视频接口。
“在购买自动测试设备时，性能和产品使用寿命是消费电子器件制造商面临的重要因素。”安捷伦半导体测试业务副总裁Pascal Ronde说，“93000超小型测试头不同于其它低端测试仪，其它测试仪具有只能在本产品线内扩充和兼容的限制，没有明确的战略，解决供应链中效率低下的问题。93000超小型测试头利用93000平台结构，提供了一种低成本、高性能、可扩充的解决方案，并且能够兼容全系列93000解决方案。”
93000超小型测试头实现了93000平台优异的测试质量，并拥有老牌93000平台中相同的特性，如可扩充的结构、Pin Scale数字模块、高级模拟模块和RF模块、SmarTest软件、被测设备(DUT)电路板和模块。由于其先进的集成度，“零空间”的93000超小型测试头几乎不占用地板空间，最多四个超小型测试头可以共享一个冷却单元。93000 CTH的主要特点包括：18个灵活的硬件插槽，其中16个插槽可以指配用于数字、模拟或RF卡；基于PCI Express的新传送链路，可以快速上传和下载测试仪数据及增强的DC测试功能，为超小型测试头提供了更高的吞吐性能。
半导体封装设计、装配与测试服务供应商ASAT日前已选择配有Audio/Video 8(A/V 8)的Agilent 93000 Pin Scale系统，在华南东莞新建的生产厂中测试大批量混合信号设备和数字设备。