网站首页
IC库存
IC展台
电子资讯
技术资料
PDF文档
我的博客
IC72论坛
ic72 logo
搜索关键字: 所有资讯 行业动态 市场趋势 政策法规 新品发布 技术资讯 价格快报 展会资讯
  • 达普IC芯片交易网 > 新闻中心 > 嵌入系统 > 正文
  • RSS
  • 印度研究人员提出削减设计验证时间的新方法
    http://www.ic72.com 发布时间:2005/10/31 8:51:00
        印度技术学院(IIT)的五位研究人员最近提出一种形式特性验证(FPV)的新方法。他们建议以直观的方式针对形式分析编写明确的测试方案。这些研究人员提出的方法还包含特性测试方案覆盖的观念,以及识别测试方案的哪一部分被形式特性所覆盖的方法。研究人员表示:“我们相信,我们的方法将通过削减测试计划而缩短设计验证时间,有助于显著减少仿真费用。”  

        传统的形式验证方法尝试按照形式规范,采用诸如模型校验的技术验证给定的RTL实现。但纯粹的验证形式方法还仍然没有被设计流程所接纳。微架构编写设计的测试方案,这种结构化的方式用于检查设计在不同的时间点是否满足特性,并且在不同的输入序列下是否符合协议要求。但目前仍没有正式的明确的方式来编写测试方案,因此,设计师难以发现测试方案的哪一部分被形式特性验证(FPV)的结果所覆盖。  

        IIT的研究人员提出的测试方案可由FPV所覆盖。所提出的语法结构称为测试方案描述语言Test 
    Plan Description Language(TDPL)。该语言的核心部分是使用简单的语法。  

        据研究人员发布的论文称,“在FPV中,由于缺乏足够的行为覆盖准则,设计人员并不明确知道FPV是否覆盖了测试计划中涉及的所有情形。”而他们则在论文中提出了构建测试计划的初步设想,并指出了测试计划中的部分内容如何使用FPV进行覆盖。研究人员建议,应该与设计架构师协同工作,共同改进编写测试计划的语法。他们称,采用ARM AMBA APB协议的一个具体案例实施效果良好。

    www.ic72.com 达普IC芯片交易网
  • 行业动态
  • 市场趋势
  • 政策法规
  • 新品发布
  • Baidu

    IC快速检索:abcdefghijklmnopqrstuvwxyz0123456789
    COPYRIGHT:(1998-2010) IC72 达普IC芯片交易网
    客户服务:service@IC72.com 库存上载:IC72@IC72.com
    (北京)联系方式: 在线QQ咨询:点击这里给我发消息 联系电话:010-82614113 传真:010-82614123
    京ICP备06008810号-21 京公网安备 11010802032910 号 企业资质